EMC - Elektromagnetisk kompatibilitet

Profil

EMC-gruppen er aktiv på alle niveauer af systemhierarkiet og i samtlige projektfaser. Vores mål er at fokusere på EMC så tidligt som muligt i et udviklingsprojekt og gennem hele projektet arbejde med EMC-indsatsen. Ved at fokusere på EMC på alle stadier mindskes risikoen for forsinkelser og dyre nødløsninger samt reducerer tendensen til kostbart overdesign.

Vores gruppe forsker ud fra ovenstående tankegang i EMC-karakterisering, og hvordan man begrænser EMI. Derudover fokuserer vi på at reducere ledningsbåret og feltbåret emission fra vekselrettere og PFC ved brugen af nye ferrit-materialer og hybride magnetiske strukturer til EMI-filtrering.
En gennemtænkt EMC-arkitektur afbøder mange EMC-problemer, især feltbåret emission. Vi undersøger derfor metoder til reduktion af feltbåret emission ved hjælp af en korrekt EMC-arkitektur. Målet er at kunne kombinere målinger på modulniveau med EMC-arkitektur i 3D full wave simuleringer og derved blive i stand til at vurdere feltbåret emission tidligt i projektfasen.

I takt med udviklingen af IOT og andre trådløse løsninger er interessen for desense også øget; det vil sige forringelse af sensitivitet grundet indre støjkilder. Vores nuværende fokusområder er PCB-layout og at fastlægge koblingsvejen ved hjælp af nærfeltsscanninger og -simuleringer.

Serviceydelser

• Samtlige obligatoriske EMC-tests inklusiv ledningsbåret og feltbåret emission, feltbåret immunitet, spurious emission, ESD, burst, surge og power harmonics.
• Fejlanalyse
• EMC-design på samtlige niveauer (komponent, PCB-modul og system)
• Signal- og powerintegritet
• Nærfeltsscanninger
• Kredsløbs- og 3D full wave elektromagnetiske simuleringer
• Hybride magnetiske strukturer til EMI-filtrering.

Udstyr

I vores EMC LAB råder vi over følgende:

• Generatorer for ESD, burst, surge og strømudfald
• Fulddæmpet skærmet rum (FAR) (6,60 m x 1,96 m x 2,28 m (LxWxH) interne mål) for fuldbårent og spurious emission op til 18 GHz samt HF-indstråling op til 6 GHz
• Tests af ledningsbåret emission i et hårdtskærmet rum.
• Nærfeltscanning med både amplitude og fase
• Spektrumanalysator, 4-port 40 GHz VNA, højhastigheds-oscilloskop, forskellige prober, etc.