EMC - Elektromagnetisk kompatibilitet

EMC-karakterisering og -reduktion på komponent- og modulniveau

Emneord og anvendelser

Emneord
EMC-design, EMC-tests, målinger og analyser, spurious emission, EMI-filtrering, komponenter, SI/PI.

Anvendelser
Forbruger- og industribaseret elektronik, effektelektronik, elektromobilitet, automotiv og trådløs anvendelse, desense. 

Profil

EMC-gruppen er aktiv på alle niveauer af systemhierarkiet og i samtlige projektfaser. Vores mål er at fokusere på EMC så tidligt som muligt i et udviklingsprojekt og gennem hele projektet arbejde med EMC-indsatsen. Ved at fokusere på EMC på alle stadier mindskes risikoen for forsinkelser og dyre nødløsninger samt reducerer tendensen til kostbart overdesign.

Vores gruppe forsker ud fra ovenstående tankegang i EMC-karakterisering, og hvordan man begrænser EMI. Derudover fokuserer vi på at reducere ledningsbåret og feltbåret emission fra vekselrettere og PFC ved brugen af nye ferrit-materialer og hybride magnetiske strukturer til EMI-filtrering.
En gennemtænkt EMC-arkitektur afbøder mange EMC-problemer, især feltbåret emission. Vi undersøger derfor metoder til reduktion af feltbåret emission ved hjælp af en korrekt EMC-arkitektur. Målet er at kunne kombinere målinger på modulniveau med EMC-arkitektur i 3D full wave simuleringer og derved blive i stand til at vurdere feltbåret emission tidligt i projektfasen.

I takt med udviklingen af IOT og andre trådløse løsninger er interessen for desense også øget; det vil sige forringelse af sensitivitet grundet indre støjkilder. Vores nuværende fokusområder er PCB-layout og at fastlægge koblingsvejen ved hjælp af nærfeltsscanninger og -simuleringer.

Serviceydelser

  • Samtlige obligatoriske EMC-tests inklusiv ledningsbåret og feltbåret emission, feltbåret immunitet, spurious emission, ESD, burst, surge og power harmonics.
  • Fejlanalyse
  • EMC-design på samtlige niveauer (komponent, PCB-modul og system)
  • Signal- og powerintegritet
  • Nærfeltsscanninger
  • Kredsløbs- og 3D full wave elektromagnetiske simuleringer
  • Hybride magnetiske strukturer til EMI-filtrering.

Udstyr

Vi er i gang med at etablere et avanceret EMC LAB, og i løbet af foråret 2020 vil vi råde over følgende:

  • Generatorer for ESD, burst, surge og strømudfald
  • Fulddæmpet skærmet rum (FAR) (6,60 m x 1,96 m x 2,28 m (LxWxH) interne mål) for fuldbårent og spurious emission op til 18 GHz samt HF-indstråling op til 6 GHz
  • Tests af ledningsbåret emission i et hårdtskærmet rum.
  • Nærfeltscanning med både amplitude og fase
  • Spektrumanalysator, 4-port 40 GHz VNA, højhastigheds-oscilloskop, forskellige prober, etc.

Kontakt

Morten Sørensen
Lektor, ph.d.
Center for Industriel Elektronik (CIE)
Mads Clausen Instituttet

T 6550 8388
soerensen@mci.sdu.dk